Nanometrology International, Inc. (NMI) - это американская корпорация с представительствами в России, США, Южной Корее и Японии. 

Сфера нашей активности: 
  • Метрологические услуги;
  • Микроэлектроника;
  • Нанотехнологии;
  • Разработка и внедрение процессов полупроводникового производства;
  • Консалтинг;
  • Поставка оборудования;
  • Подготовка специалистов;
  • Международный маркетинг;

NMI - это команда экспертов мирового класса в индустриальной метрологии, полупроводниковой технологии и характеризации. Наши специалисты работают с мировыми лидерами полупроводниковой индустрии (IBM, TI, Samsung, Hitachi, etc.). Эксперты корпорации NMI участвовали в разработке и запуске современных полупроводниковых технологий, от 250 до 22 нм.

Вы хотите снизить затраты на разработку технологий, сократить время от идеи до выхода продукта на рынок, закупить технологическое оборудование под ключ, обучить персонал, провести бизнес семинары и академические лекции по нанотехнологии и нанометрологии - всё это делает NMI.

>> Читать далее...    >> Read English version...

Новости

  • Доклад на 25-й конференции SPIE Президент NMI Владимир Украинцев представил работу под названием "Challenges of SEM-based critical dimension metrology of interconnect" / "Проблемы сканирующей электронной микроскопии при измерениях критических размеров элементов интерконнект микросхем" на 25 ...
    Отправлено 10 мар. 2011 г., 07:13 пользователем Неизвестный пользователь
  • Rusnanotech 2010 Команда NMI приняла участие в III Международном форуме по нанотехнологиям RUSNANOTECH 2010, который проводился 1-3 ноября 2010 года в Экспоцентре в  
    Отправлено 10 мар. 2011 г., 07:14 пользователем Неизвестный пользователь
Показать сообщения: 1 - 2 из 2. Дополнительно »


Публикации

"Вклад вариации систематической погрешности в общую неопределённость измерений критических размеров."
"Роль CDAFM в достижении точного OPC моделирования"
"Переход от воспроизводимой к точной метрологии критических размеров"
 "Роль атомно-силовой микроскопии (AFM) в развитии полупроводниковых технологий менее 65-ти нанометров"
"Роль референс метрологии в контроле и успехе нанопроизводства"
"Нанометрология критических измерений"
"Важность референс метрологии для нанотехнологии: проблемы и решения."