Новости

NMI: последние новости

Доклад на 25-й конференции SPIE

Отправлено 5 нояб. 2010 г., 08:38 пользователем Неизвестный пользователь

Президент NMI Владимир Украинцев представил работу под названием "Challenges of SEM-based critical dimension metrology of interconnect" / "Проблемы сканирующей электронной микроскопии при измерениях критических размеров элементов интерконнект микросхем" на 25-й конференции "Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography", которая проводилась в городе Сан Хосе, штат Калифорния с 27 февраля по 3 марта 2011.

Rusnanotech 2010

Отправлено 10 сент. 2010 г., 07:50 пользователем Неизвестный пользователь

Команда NMI приняла участие в III Международном форуме по нанотехнологиям RUSNANOTECH 2010, который проводился 1-3 ноября 2010 года в Экспоцентре в
 


1-2 of 2