Публикации

Работы, опубликованные специалистами Nanometrology International, Inc.
SelectionFile type iconFile nameDescriptionSizeRevisionTimeUser
Ċ
Просмотр Скачать
Проблемы сканирующей электронной микроскопии при измерениях критических размеров элементов интерконнект микросхем  1186 кб версия 1 9 мар. 2011 г., 07:35 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Вклад вариаций систематической погрешности в общую неопределённость измерений критических размеров" В. Украинцев   70 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:32 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Нанометрология критических измерений" В. Украинцев, Б. Банке   249 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:32 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Важность референс метрологии для нанотехнологии: проблемы и решения." В. Украинцев и Б. Банке   878 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:32 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Роль CDAFM в достижении точного OPC моделирования" В. Украинцев   1742 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:33 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Выбор образцов измерений в полупроводниковой индустрии" Б. Бундэй, Б. Рийперс, Б. Банке, Ч. Арчи, И. Петерсон, В. Украинцев, Т. Хингст, М. Асано  827 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:35 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Роль Атомно-силовой микроскопии (AFM) в развитии полупроводниковых технологий" В. Украинцев, К. Баум, Г. Жанг, К. Холл   283 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:35 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Роль референс метрологии в контроле и успехе нанопроизводства" В. Украинцев, П. Красовский, С. Голубев   1292 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:35 Неизвестный пользователь
Ċ
Просмотр Скачать
"Переход от воспроизводимой к точной метрологии критических размеров" В. Украинцев, М. Тсаи, Т. Лии, Р. Джексон   723 кб версия 1 27 февр. 2011 г., 09:36 Неизвестный пользователь